广芯微电子“一种SOC仿真验证方法、装置及存储介质”专利获授权

天眼查显示，广芯微电子（广州）股份有限公司近日取得一项名为“一种SOC仿真验证方法、装置及存储介质”的专利，授权公告号为CN111967209B，授权公告日为2024年6月14日，申请日为2020年8月21日。

本发明公开了一种SOC仿真验证方法，步骤包括：通过激励产生器调用SystemVerilog搭建的仿真激励，同时所述仿真激励产生仿真内容信息；在被验证的SOC系统的存储空间中划分出TDr区域，并将所述仿真内容信息存储到所述TDr区域；利用所述SOC系统的中心处理器读取所述TDr区域的仿真内容信息以驱动仿真。本发明提供了一种SOC仿真验证方法、装置及存储介质，仿真过程中不使用仿真组件代替真实的CPU，保证了仿真时SOC系统行为的真实性，同时允许使用System Verilog等验证语言产生驱动CPU的激励。