康芯威“一种存储芯片的测试方法及测试装置”专利获授权

天眼查显示,合肥康芯威存储技术有限公司近日取得一项名为“一种存储芯片的测试方法及测试装置”的专利,授权公告号为CN118471309B,授权公告日为2024年9月6日,申请日为2024年7月3日。

本发明提供一种存储芯片的测试方法及测试装置,属于存储技术领域。所述存储芯片的测试方法包括以下步骤:对主机上电并开机,并向存储芯片发送初始化指令;存储芯片接收到初始化指令后,第一计时器开始计时,并对存储芯片进行初始化;存储芯片完成初始化后;当第一计时器的时间到达预设时间,向主机发送反馈信息;若主机接收到反馈信息的时间未超过上电时间,则主机正常开机,之后对主机下电;存储芯片依据主机的下电次数更新预设时间;重新对主机上电,直至主机接收到反馈信息的时间超过上电时间,并获取上个循环中的预设时间作为存储芯片的最大上电时间。通过本发明提供的存储芯片的测试方法及测试装置,可自动获取存储芯片的最大上电时间。


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