本源量子“可调耦合比特量子信息泄露的测试方法及装置”专利获授权

天眼查显示，本源量子计算科技（合肥）股份有限公司近日取得一项名为“可调耦合比特量子信息泄露的测试方法及装置”的专利，授权公告号为CN116702916B，授权公告日为2024年7月16日，申请日为2022年2月28日。

本发明提供一种可调耦合比特量子信息泄露的测试方法及装置，所述可调耦合比特量子信息泄露的测试方法包括：提供一量子芯片，所述量子芯片包括量子比特及可调耦合比特；获取所述量子比特接收π脉冲后处于|1>态的第一保真度；获取所述量子比特经过第一处理后处于|1>态的第二保真度；所述第一处理包括交换所述量子比特与所述可调耦合比特的量子态，调节所述可调耦合比特的初始频率至目标频率并保持在所述目标频率一定时间长度后恢复至所述初始频率，交换所述量子比特与所述可调耦合比特的量子态；根据第一保真度与第二保真度获取可调耦合比特的量子信息泄露强度。本发明的技术方案能够对可调耦合比特量子信息泄露情况进行测量。