概伦电子：推出面向MEMS参数测试系统及自动量测方案

集微网消息，近日，概伦电子在接受机构调研时表示，公司基于已有硬件基础和工程实践经验，通过强研发驱动高端产品持续突破，新推出了面向MEMS传感微结构的参数测试系统以及完备的自动量测解决方案，不断丰富测试产品版图。

据介绍，概伦电子电特性测试系统与EDA产品软硬件协同，覆盖半导体器件电学特性测试、噪声特性测试、晶圆级电学参数测试和可靠性测试等领域。

概伦电子表示，公司的全自动量测解决方案可以贯通FS-Pro的基本电性参数测试、9812系列的噪声测试、可靠性测试，以及建模提参工具之间的整个测试建模流程，满足各类半导体实验室复杂多变的测试需求，极大加速半导体器件与工艺研发评估和芯片设计过程，提高开发测试效率，进一步支持公司打造行业领先的差异化和具有更高价值的数据驱动的EDA全流程解决方案。

此外，公司于2023年10月发布了全新的数字逻辑电路仿真器VeriSim，适用于大型SoC设计，支持全面设计验证，确保数字电路与模拟电路协同运行，提高系统可靠性。公司还推出了面向MEMS传感微结构的参数测试系统以及完备的自动量测解决方案，满足各类半导体实验室复杂多变的测试需求，极大加速半导体器件与工艺研发评估和芯片设计过程，提高开发测试效率。

（校对/黄仁贵）