清微智能 “一种IC验证中实现双DUT验证的方法”专利公布

集微网消息，天眼查显示，北京清微智能科技有限公司“一种IC验证中实现双DUT验证的方法”专利公布，申请公布日为2024年3月26日，申请公布号为CN117764006A。

本发明属于IC验证技术领域，具体公开了一种IC验证中实现双DUT验证的方法。本发明提出直接用新增DUT中的CPU读取数据，相比于原有搭建MONITOR的验证方法，本发明不仅验证环境更简洁，而且节省了搭建MONITOR和采集数据花费的时间；并且，如果待验证IP有修改，本发明只需要回归原有CASE不需要更新验证环境，与传统方法相比，不仅方便项目间验证环境的继承，同时也极大地提高了IP的验证速度；此外，按照本发明中的方法，验证人员不用关注MONITOR的采集方案或UVM验证环境，因此本发明能够有效地避免验证过程中数据容易出错的情况，同时也能够提高设计人员协助调试的便利性。