芯华章“仿真方法、电子设备、可读存储介质”专利获授权

天眼查显示，芯华章科技股份有限公司近日取得一项名为“仿真方法、电子设备、可读存储介质”的专利，授权公告号为CN115292102B，授权公告日为2024年5月28日，申请日为2022年5月20日。

本申请涉及仿真测试技术领域，具体公开了一种仿真方法、电子设备、可读存储介质，所述方法包括：接收待测设计的描述和测试环境的描述，所述待测设计和所述测试环境包括多个信号；根据所述待测设计和所述测试环境，在所述多个信号中识别所述待测设计和所述测试环境中的关键信号；根据所述关键信号确定所述待测设计和所述测试环境中的空闲信号；对所述待测设计进行仿真，其中，跳过对所述空闲信号的仿真。本申请通过获取待测设计的描述和测试环境描述，并基于待测设计和测试环境的关键信号确定待测设计和测试环境中的空闲信号，使得对待测设计进行仿真时跳过对空闲信号的仿真，可以进一步提高仿真效率，改善覆盖率统计，缩减测试时间。