苏试宜特“集成电路静电仿真失效分析仪”专利获授权

集微网消息，天眼查显示，苏试宜特（上海）检测技术股份有限公司“集成电路静电仿真失效分析仪”专利获授权，授权公告日为11月10日，授权公告号为CN219996926U。

图片来源：天眼查

专利摘要显示，本实用新型涉及一种集成电路静电仿真失效分析仪，包括用于罩设在静电仿真器外并于该静电仿真器上方形成安装空间的箱体；装设于该安装空间内的三轴移动架；装设于该三轴移动架的移动末端并用于拍摄该静电仿真器上样品的摄像头，该摄像头的背面设有用于固定在该三轴移动架移动末端上的镜头固定器，该镜头固定器上固定有热点传感器，该镜头的外周设有灯圈。

据悉，本实用新型解决了现有技术中的热点分析实验无法准确定位失效点位的技术问题。本装置不必更改原有静电仿真器设备结构，可确保原有设备功能运作正常，无论静电试验失效或闩锁试验失效时，都可以快速初步定位失效位置。（校对/刘沁宇）