长鑫存储“一种测试模式复用器以及存储芯片”专利获授权

集微网消息,天眼查显示,长鑫存储技术有限公司近日取得一项名为“一种测试模式复用器以及存储芯片”的专利,授权公告号为CN107705820B,授权公告日为2024年3月26日,申请日为2017年11月08日。

本发明提供了一种测试模式复用器,用于存储芯片,包括测试模式开关和正常工作开关,通过测试模式开关和正常工作开关之间的路径切换,控制测试模式开关打开时,输入测试信号至内部电路进行测试,测试完成后,控制正常工作开关打开时,输入正常工作信号至内部电路进行运行,保证了在正常工作时,对内部电路的保护,避免输入的信号对内部电路造成损坏,同时,正常运行的路径并不受测试路径的影响。本发明还提供了一种存储芯片,具有上述技术效果。


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