长鑫存储“一种测试模式复用器以及存储芯片”专利获授权

集微网消息，天眼查显示，长鑫存储技术有限公司近日取得一项名为“一种测试模式复用器以及存储芯片”的专利，授权公告号为CN107705820B，授权公告日为2024年3月26日，申请日为2017年11月08日。

本发明提供了一种测试模式复用器，用于存储芯片，包括测试模式开关和正常工作开关，通过测试模式开关和正常工作开关之间的路径切换，控制测试模式开关打开时，输入测试信号至内部电路进行测试，测试完成后，控制正常工作开关打开时，输入正常工作信号至内部电路进行运行，保证了在正常工作时，对内部电路的保护，避免输入的信号对内部电路造成损坏，同时，正常运行的路径并不受测试路径的影响。本发明还提供了一种存储芯片，具有上述技术效果。