龙芯中科“芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储介质”专利公布

天眼查显示，龙芯中科技术股份有限公司“芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储介质”专利公布，申请公布日为2024年8月30日，申请公布号为CN118567919A。

本发明实施例提供了一种芯片、芯片测试方法、电子设备以及存储介质，芯片包括第一模块以及第二模块，第一模块与第二模块通过待测接口相连接，第一模块以及第二模块位于不同的功能模块；待测接口为芯片中的任意两个功能模块之间的数据传输接口；第一模块以及第二模块分别用于生成相对应的第一测试信号以及第二测试信号；第一模块用于通过待测接口发送第一测试信号；第二模块用于通过待测接口接收待测信号，并基于待测信号以及第二测试信号生成检测结果。无需采用第三方测试设备，大大减少了测试成本。